國星之光大講堂第四講

LED產(chǎn)品在生產(chǎn)和使用各階段往往會受到各種應力、環(huán)境等因素的影響，達不到預期的壽命和功能，即發(fā)生失效現(xiàn)象。LED失效分析作為一門新興發(fā)展中的學科，是產(chǎn)品生產(chǎn)、研發(fā)和應用中的重要技術，深刻理解LED失效分析技術對LED產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用意義非凡。

為了幫助研發(fā)人員掌握先進的失效分析手段，學習先進的失效分析方法，6月9日，“國星之光大講堂”邀請了公司研究院朱昕博士作“LED失效分析與案例分享”專題授課，公司研究院、各事業(yè)部及國星半導體共計七十余人參加了此次培訓。

朱昕博士從失效分析的基本概念出發(fā)，重點圍繞LED產(chǎn)品的芯片失效、封裝失效、內(nèi)應力失效、電應力失效、裝配失效的失效模式與失效機理，以及LED產(chǎn)品的實際失效案例對LED產(chǎn)品在生命周期的各個階段發(fā)生失效的原因做了全方位的精彩講解。

提問環(huán)節(jié)，學員們對實操中常遇到的問題或困難，如器件過壓或過流、環(huán)氧樹脂開裂、銀漿分層等提出疑問。朱昕博士結合自身在LED失效分析領域的豐富經(jīng)驗一一做了詳細的解答，學員們紛紛表示此次講座獲益匪淺、收獲頗豐！

國星光電始終堅持創(chuàng)新驅動發(fā)展戰(zhàn)略，圍繞“五新”改革發(fā)展總思路，著力提升創(chuàng)新實力和綜合競爭力，公司特別聚焦共性技術難題攻關和標準化與可靠性工程研究，為此也搭建了失效分析共性平臺，建立了半導體元器件失效分析團隊，協(xié)助各方解決可靠性等技術難題，進一步助推了國星光電奪取高質(zhì)量發(fā)展新勝利！