國星之光大講堂

2021年3月15日
“國星之光大講堂”月度講堂活動
在國星光電正式拉開帷幕

講堂特邀知名專家、行業(yè)大咖前來授課
一場又一場
別開生面、干貨滿滿的高規(guī)格培訓(xùn)課程
紛至沓來

當(dāng)然是——質(zhì)量！

Q2 那么產(chǎn)品質(zhì)量好不好由什么衡量？
衡量的因素很多  

但肯定少不了它——可靠性!

繼首期“國星之光大講堂”結(jié)束后， 2021年4月7日，第二期“國星之光大講堂”特邀了工業(yè)和信息化部電子第五研究所正高級工程師李萍作“失效分析概論”專題授課，國星光電研發(fā)部門和質(zhì)量部門的技術(shù)人員及管理人員參加了本次講堂。

講堂風(fēng)采

可靠性作為衡量產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo)，失效分析作為提升可靠性的關(guān)鍵技術(shù)，其相互關(guān)系對于質(zhì)量的提升至關(guān)重要。課堂上，李高工詳細(xì)介紹了失效分析理論、LED失效分析技術(shù)和常用的失效分析設(shè)備，并且利用大量典型案例，生動的講解了LED主要失效模式和常見失效機理，展示了失效分析在生產(chǎn)及研發(fā)過程中提升產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的應(yīng)用。

學(xué)員們主動發(fā)問，積極探索。面對學(xué)員提出的一系列疑問，李高工結(jié)合自身在電子元器件失效分析及產(chǎn)品可靠性改進(jìn)方面豐富的實戰(zhàn)經(jīng)驗進(jìn)行答疑解惑。

學(xué)員們深知失效分析技術(shù)在提升產(chǎn)品可靠性方面的重要性，通過課程學(xué)習(xí)，大家紛紛表示，今后要積極利用這一重要技術(shù)，降低產(chǎn)品各環(huán)節(jié)中的故障或失效問題，保證產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，為客戶持續(xù)提供滿意的產(chǎn)品和服務(wù)提供有力保障。此外，提升產(chǎn)品可靠性不僅需要技術(shù)人員高水平的知識儲備及實操技能，同時還需要高端檢測設(shè)備的支持。國星光電研究院目前配備了X-Ray測試儀、超聲波掃描儀、光學(xué)顯微鏡、ESD抗靜電能力測試儀、溫濕試驗箱、鹽霧試驗機等光電性能、環(huán)境可靠性、失效分析領(lǐng)域的高端檢測設(shè)備達(dá)100多臺，為各部門產(chǎn)品設(shè)計、開發(fā)、試驗、生產(chǎn)、經(jīng)營提供技術(shù)支持。

近年來，國星光電一直以“創(chuàng)新和發(fā)展”為內(nèi)核，國星光電研究院作為國星光電鼎力打造的集技術(shù)研發(fā)、項目孵化和人才培養(yǎng)功能為一體的復(fù)合型研發(fā)機構(gòu)，一直秉持國星光電創(chuàng)新驅(qū)動發(fā)展理念、堅持國星光電技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略部署，始終圍繞前沿創(chuàng)新技術(shù)、共性關(guān)鍵技術(shù)和基礎(chǔ)核心技術(shù)開展研發(fā)創(chuàng)新，在新型微顯示、第三代半導(dǎo)體、光健康等領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了一大批前沿科技成果落地，此次國星光電研究院以“國星之光大講堂”為平臺，分享行業(yè)技術(shù)進(jìn)展與趨勢、跟蹤市場動態(tài)與熱點、拓展科技人員視野、提升全員創(chuàng)新能力，為國星光電打造“技術(shù)人才培養(yǎng)基地、核心技術(shù)研發(fā)基地、新興項目孵化基地、創(chuàng)新機制探索基地”作重要鋪墊，助力國星光電在高質(zhì)量發(fā)展道路上穩(wěn)步前行。